Личный кабинетuser
orange img orange img orange img orange img orange img
РефератСтандартизация
Готовая работа №64986 от пользователя Irina L.
book

Использование вторичной электронной эмиссии для получения изображения в РЭМ

270 ₽
Файл с работой можно будет скачать в личном кабинете после покупки
like
Гарантия безопасной покупки
help

Сразу после покупки работы вы получите ссылку на скачивание файла.

Срок скачивания не ограничен по времени. Если работа не соответствует описанию у вас будет возможность отправить жалобу.

Гарантийный период 7 дней.

like
Уникальность текста выше 50%
help

Все загруженные работы имеют уникальность не менее 50% в общедоступной системе Антиплагиат.ру

file
Возможность снять с продажи
help

У покупателя есть возможность доплатить за снятие работы с продажи после покупки.

Например, если необходимо скрыть страницу с работой на сайте от третьих лиц на определенный срок.

Тариф можно выбрать на странице готовой работы после покупки.

Не подходит эта работа?
Укажите тему работы или свой e-mail, мы отправим подборку похожих работ
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь на обработку персональных данных

содержание


ВВЕДЕНИЕ 3
ВТОРИЧНЫЕ ЭЛЕКТРОНЫ 5
ОБЛАСТЬ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРОНОВ ЗОНДА С ВЕЩЕСТВОМ 7
ДЕТЕКТОРЫ ВТОРИЧНЫХ СИГНАЛОВ В РЭМ 11
ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ЭЛЕКТРОННОГО ПУЧКА С ВЕЩЕСТВОМ 13
ОСНОВНЫЕ МЕХАНИЗМЫ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ ЭЛЕКТРОНОВ В ВЕЩЕСТВЕ (УПРУГИЕ И НЕУПРУГИЕ ПОТЕРИ) 14
ИЗОБРАЖЕНИЯ ОТ ВТОРИЧНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭМИССИИ 15
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 16
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 18



Весь текст будет доступен после покупки

ВВЕДЕНИЕ

Растровая электронная микроскопия (РЭМ) является одним из основных методов исследования структуры материалов. Основной характеристикой какого-либо элемента структуры является его размер. Характерные размеры элементов структуры, изучаемых в материаловедении, варьируются в пределах от 0,1 нм до 1000 мкм. Для исследования структурных элементов разных размеров применяются различные исследовательские методики. Например, оптическая микроскопия используется для исследования объектов, размеры которых составляют 1 мкм и выше. К таким объектам могут относиться зерна, крупные включения второй фазы. Методика просвечивающей электронной микроскопии, как правило, используется для анализа структурных элементов размером от 0,1 нм до 1 мкм. Диапазон размеров объектов, которые могут быть исследованы методом растровой электронной микроскопии, лежит в пределах от 0,01 мкм до 1000 мкм. Таким образом, сканирующая электронная микроскопия может быть использована для изучения структуры материалов в широком диапазоне размеров структурных элементов [1].
Говоря о возможностях сканирующей электронной микроскопии, следует отметить, что ее применение позволяет получить не только изображение структуры материала, но и информацию о его химическом и фазовом составе, кристаллографической ориентировке зерен. Получение дополнительной информации о материале возможно в случае применения аналитических приставок к электронным микроскопам, получившим в последнее время широкое распространение. К такому оборудованию относится, например, детектор Оже-электронов, устройство для захвата и анализа картин дифракции отраженных электронов, энерго- или воднодисперсионный рентгеновский микроанализатор.

Весь текст будет доступен после покупки

отрывок из работы

ВТОРИЧНЫЕ ЭЛЕКТРОНЫ

Вторичными электронами обычно называют электроны, эмитированные мишенью при бомбардировке её первичным электронным пучком. Они имеют непрерывный энергетический спектр от 0 до энергии электронов зонда – E_z и состоят из упруго и неупруго отраженных электронов и истинно вторичных электронов, образовавшихся в процессе взаимодействия электронов зонда с электронами зоны проводимости. Ниже пойдет речь только об истинно вторичных электронах, которые в растровой электронной микроскопии получили название просто вторичных электронов. Такие электроны имеют энергию существенно меньше 50эв. На рисунке 2 показано распределение по энергии электронов, покидающих поверхность образца в результате воздействия на нее электронов зонда. Высокоэнергетическая часть спектра представляет здесь упруго и неупруго отраженные электроны.

Весь текст будет доступен после покупки

Список литературы

1. Zhou W., Lin Z. Scanning Microscopy for Nanotechnology // Scanning Microscopy for Nanotechnology. – 2007.
2. George F. Vander Voort, John J. Friel. Developments in Materials Characterization Technologies // International Metallographic Society. – 1996. – 125 с.
3. Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии: учебное пособие / Э. Ф. Вознесенский, Ф. С. Шарифуллин, И. Ш. Абдуллин; М-во образ. и науки России, Казан. нац. исслед. технол. ун-т. – Казань: Изд-во КНИТУ, 2014. – 184 с.
4. Вторичная электронная эмиссия / Н. С. Хлебников, В. В. Налимов // Успехи физических наук. – 1965. – Т. 16. – Вып. 4.

Весь текст будет доступен после покупки

Почему студенты выбирают наш сервис?

Купить готовую работу сейчас
service icon
Работаем круглосуточно
24 часа в сутки
7 дней в неделю
service icon
Гарантия
Возврат средств в случае проблем с купленной готовой работой
service icon
Мы лидеры
LeWork является лидером по количеству опубликованных материалов для студентов
Купить готовую работу сейчас

не подошла эта работа?

В нашей базе 78761 курсовых работ – поможем найти подходящую

Ответы на часто задаваемые вопросы

Чтобы оплатить заказ на сайте, необходимо сначала пополнить баланс на этой странице - https://lework.net/addbalance

На странице пополнения баланса у вас будет возможность выбрать способ оплаты - банковская карта, электронный кошелек или другой способ.

После пополнения баланса на сайте, необходимо перейти на страницу заказа и завершить покупку, нажав соответствующую кнопку.

Если у вас возникли проблемы при пополнении баланса на сайте или остались вопросы по оплате заказа, напишите нам на support@lework.net. Мы обязательно вам поможем! 

Да, покупка готовой работы на сайте происходит через "безопасную сделку". Покупатель и Продавец финансово защищены от недобросовестных пользователей. Гарантийный срок составляет 7 дней со дня покупки готовой работы. В течение этого времени покупатель имеет право подать жалобу на странице готовой работы, если купленная работа не соответствует описанию на сайте. Рассмотрение жалобы занимает от 3 до 5 рабочих дней. 

У покупателя есть возможность снять готовую работу с продажи на сайте. Например, если необходимо скрыть страницу с работой от третьих лиц на определенный срок. Тариф можно выбрать на странице готовой работы после покупки.

Гарантийный срок составляет 7 дней со дня покупки готовой работы. В течение этого времени покупатель имеет право подать жалобу на странице готовой работы, если купленная работа не соответствует описанию на сайте. Рассмотрение жалобы занимает от 3 до 5 рабочих дней. Если администрация сайта принимает решение о возврате денежных средств, то покупатель получает уведомление в личном кабинете и на электронную почту о возврате. Средства можно потратить на покупку другой готовой работы или вывести с сайта на банковскую карту. Вывод средств можно оформить в личном кабинете, заполнив соответствущую форму.

Мы с радостью ответим на ваши вопросы по электронной почте support@lework.net

surpize-icon

Работы с похожей тематикой

stars-icon
arrowarrow

Не удалось найти материал или возникли вопросы?

Свяжитесь с нами, мы постараемся вам помочь!
Неккоректно введен e-mail
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь на обработку персональных данных