содержание
1. ОПИСАНИЕ РАЗРАБАТЫВАЕМОЙ УСТАНОВКИ. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ. 6
1.1 Общие сведения о производстве современных микропроцессорных устройств 6
1.2 Подходы к тестированию микропроцессорных устройств 11
1.3 Патентный поиск 17
2.1 Общая структура устройства 40
3. РАСЧЁТ НАДЕЖНОСТИ УСТРОЙСТВА 47
3.1 Ориентировочный расчёт надёжности 47
3.2 Уточнённый расчёт надёжности 49
3.ТЕХНИКО-ЭКОНОМИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ 53
3.1 Введение 53
3.2 Расчет затрат на создание автоматизированного тестового комплекса 54
3.3 Эксплуатационные расходы 57
3.4 Экономический эффект 63
Вывод по разделу 64
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 66
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 67
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ 68
1.1 Общие сведения о производстве современных микропроцессорных устройств 6
1.2 Подходы к тестированию микропроцессорных устройств 11
1.3 Патентный поиск 17
2.1 Общая структура устройства 40
3. РАСЧЁТ НАДЕЖНОСТИ УСТРОЙСТВА 47
3.1 Ориентировочный расчёт надёжности 47
3.2 Уточнённый расчёт надёжности 49
3.ТЕХНИКО-ЭКОНОМИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ 53
3.1 Введение 53
3.2 Расчет затрат на создание автоматизированного тестового комплекса 54
3.3 Эксплуатационные расходы 57
3.4 Экономический эффект 63
Вывод по разделу 64
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 66
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 67
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ 68
Весь текст будет доступен после покупки
Показать еще текст