содержание
Введение 4
1. Объекты интеллектуальной собственности 6
1.1 Характеристика объектов промышленной собственности 9
1.2 Технологическое развитие. Тенденции развития. 10
1.3 Подходы к анализу тенденций технологического развития 18
1.3.1 Форсайт 21
1.3.2 Разработка сценариев 23
1.3.3 Метод Дельфи 24
1.3.4 Критические технологии и метод экспертных панелей 25
1.3.5 Технологическая дорожная карта 26
1.3.6 Эталонный анализ (бенчмаркинг) и Краудсорсинг 26
1.3.7 Количество выданных патентов и валовый внутренний продукт 27
2. Процессный анализ развития технологического процесса 29
2.1 Анализ процесса 30
2.1.1 Анализ заинтересованных сторон 31
2.2 Дерево проблем 32
2.2.1 Дерево целей 34
2.3 Моделирование процессов 35
2.3.1 Контекстная диаграмма 35
2.3.2 Декомпозиция первого уровня 37
2.3.3 Декомпозиция генерации идеи нового продукта или услуги 39
2.3.4 Декомпозиция метода анализа с помощью интеллектуальной собственности 41
2.4 Система сбалансированных показателей 42
3. Методика определения тенденций технологического развития с использованием ОИС 46
3.1 Обзор абсолютных и относительных индикаторов патентной активности 46
3.1.1 Динамика подачи заявок патентов на изобретения, полезные модели, промышленные образцы и товарные знаки (на уровне стран) 48
3.1.2 Роспатент. Динамика подачи заявок на ОИС в РФ 54
3.2 Страны лидеры по технологическому развитию. Международные патентные классификации 56
3.3 Патентный ландшафт 60
Заключение 63
Список использованных источников 65
1. Объекты интеллектуальной собственности 6
1.1 Характеристика объектов промышленной собственности 9
1.2 Технологическое развитие. Тенденции развития. 10
1.3 Подходы к анализу тенденций технологического развития 18
1.3.1 Форсайт 21
1.3.2 Разработка сценариев 23
1.3.3 Метод Дельфи 24
1.3.4 Критические технологии и метод экспертных панелей 25
1.3.5 Технологическая дорожная карта 26
1.3.6 Эталонный анализ (бенчмаркинг) и Краудсорсинг 26
1.3.7 Количество выданных патентов и валовый внутренний продукт 27
2. Процессный анализ развития технологического процесса 29
2.1 Анализ процесса 30
2.1.1 Анализ заинтересованных сторон 31
2.2 Дерево проблем 32
2.2.1 Дерево целей 34
2.3 Моделирование процессов 35
2.3.1 Контекстная диаграмма 35
2.3.2 Декомпозиция первого уровня 37
2.3.3 Декомпозиция генерации идеи нового продукта или услуги 39
2.3.4 Декомпозиция метода анализа с помощью интеллектуальной собственности 41
2.4 Система сбалансированных показателей 42
3. Методика определения тенденций технологического развития с использованием ОИС 46
3.1 Обзор абсолютных и относительных индикаторов патентной активности 46
3.1.1 Динамика подачи заявок патентов на изобретения, полезные модели, промышленные образцы и товарные знаки (на уровне стран) 48
3.1.2 Роспатент. Динамика подачи заявок на ОИС в РФ 54
3.2 Страны лидеры по технологическому развитию. Международные патентные классификации 56
3.3 Патентный ландшафт 60
Заключение 63
Список использованных источников 65
Весь текст будет доступен после покупки
Показать еще текст
